Микроэлектроника
Наши рентгеновские приборы используются для мониторинга процессов производства и контроля продукции в микроэлектронной промышленности.
Развитие современного высокотехнологичного производства предполагает современные инструменты контроля. Чаще других наших приборов микроэлектронная промышленность использует рентгеновский дифрактометр «Дифрей-401к» и микроскоп-микрозонд «РАМ-30μ».
Примеры применения микроскопа-микрозонда «РАМ-30μ»
2. Определение толщин нанослоев металлизации для диодов Шоттки
3. Исследование печатной платы
Примеры применения анализатора «РЕАН»
1. Рентгенофлуоресцентный анализ полупроводниковых материалов
2. Рентгенофлуоресцентный анализ продукции химического синтеза
Методика качественного и количественного контроля технологического процесса синтеза квантовых точек сложного состава. Определение Cd, Zn и S в жидких и твердых фазах при коллоидном синтезе.
3. Рентгенофлуоресцентный анализ для определения толщины покрытий
4. Рентгенофлуоресцентный анализ эпитаксиальных гетероструктур арсенидов галлия, индия и алюминия
Пример применения дифрактометра «Дифрей»
Определение толщины тонких пленок при помощи дифрактометра Дифрей
РЕАН
РАМ-30μ
Дифрей-401к