Развитие современного высокотехнологичного производства предполагает современные инструменты контроля. Чаще других наших приборов микроэлектронная промышленность использует рентгеновский дифрактометр «Дифрей-401к» и микроскоп-микрозонд «РАМ-30μ».

Примеры применения микроскопа-микрозонда «РАМ-30μ»

1. Исследование светодиодов

2. Определение толщин нанослоев металлизации для диодов Шоттки

3. Исследование печатной платы

Примеры применения анализатора «РЕАН»

1. Рентгенофлуоресцентный анализ полупроводниковых материалов

2. Рентгенофлуоресцентный анализ продукции химического синтеза
Методика качественного и количественного контроля технологического процесса синтеза квантовых точек сложного состава. Определение Cd, Zn и S в жидких и твердых фазах при коллоидном синтезе.

3. Рентгенофлуоресцентный анализ для определения толщины покрытий

4. Рентгенофлуоресцентный анализ эпитаксиальных гетероструктур арсенидов галлия, индия и алюминия

Пример применения дифрактометра «Дифрей»

Определение толщины тонких пленок при помощи дифрактометра Дифрей